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日本Mitutoyo一维高精度测高仪/QM-Height系列高精度数显测高仪

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产品名称: 日本Mitutoyo一维高精度测高仪/QM-Height系列高精度数显测高仪
产品型号: QM-Height系列
产品展商: 上海玺欣精密仪器有限公司
简单介绍
QM-Height高精度数字测高仪,带有合格/±超差判断和背光照明功能的大屏幕LCD•精度极高、性能全面、易于使用QM-Height系列数字测仪具有±(2.8+5L/1000)μm的极高精度,可满足最严酷条件下的测量需求。它的测量精度不仅仅依赖于测高仪本身,而且还依靠阶梯量块,可进行最大/最小值和位移形状表面以及内/外宽度、内/外径、圆心距和*扫描测量。此外,测量后获得的所有九种测数据均可随时存取,以便进一步作更安全和全面的计算。* 扫描测量行程:离测量起点上下1mm。•装有新开发的绝对式光栅尺•带背光的(红色和绿色)合格/±超差判断装置测量仪根据公差上下限的判断结果,使LCD的背光随之发生相应变化。•易于参照识别的图标键•凭借手轮,在导轨上下移动进行测量凭借手轮,选择粗调或微调进给量,进行手工测量


日本Mitutoyo一维高精度测高仪/QM-Height系列高精度数显测高仪的详细介绍

日本Mitutoyo一维高精度测高仪/QM-Height系列高精度数显测高仪特点: 
QM-Height高精度数字测高仪,带有合格/±超差判断和背光照明功能的大屏幕LCD
·精度极高、性能全面、易于使用QM-Height系列数字测仪具有±(2.8+5L/1000)μm的极高精度,可满足最严酷条件下的测量需求。
它的测量精度不仅仅依赖于测高仪本身,而且还依靠阶梯量块,可进行最大/最小值和位移形状表面以及内/外宽度、内/外径、圆心距和*扫描测量。
此外,测量后获得的所有九种测数据均可随时存取,以便进一步作更安全和全面的计算。
*
扫描测量行程:离测量起点上下1mm
·装有新开发的绝对式光栅尺
·带背光的(红色和绿色)合格/±超差判断装置测量仪根据公差上下限的判断结果,使LCD的背光随之发生相应变化。
·易于参照识别的图标键
·凭借手轮,在导轨上下移动进行测量凭借手轮,选择粗调或微调进给量,进行手工测量。

日本Mitutoyo一维高精度测高仪/QM-Height系列高精度数显测高仪技术参数:
 

mitutoyo一维高精度测高仪的详细介绍

 技术参数

货号

518-224

518-225

518-226

518-227

测量范围

0-350mm

0-600mm

0-14/0-350mm

0-24/0-600mm

分辨率(可选)

0.001mm,0.005mm

.00005,.0001,.0002/0.001mm,0.005mm

20时的精度

指示精度*1

±(2.8+5L/1000)μm

重复精度*1

2б≤1.8μm

*2

6μm

13μm

6μm

13μm

导轨支承

滚柱轴承

传动方式

手工操作

测长装置

容栅

测量力

1.6±0.5N

显示器

LCD

电源

AC/电池(LR6×4)

电池寿命*3

260小时(不使用背光时)

260小时(当背光在节电状态下使用时,按每天8小时测量100次计算)

6小时(当背光在满负荷状态下使用时)

重量

22kg

27kg

22kg

27kg

工作温度范围

1030

工作湿度范围

2080%RH

标准附件

测头直径校验量块,带φ5圆球测头的标准测杆夹持器(05HZA148),辅助把手,碱性电池(LR6)



 

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